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美國KLA G200納米壓痕儀
- 品牌:美國KLA
- 型號(hào): G200
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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倬昊納米科技(上海)中心
更新時(shí)間:2024-04-21 22:44:05
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銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品納米壓痕儀(2件)
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詳細(xì)介紹
KLA-Tencor 是半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)的供應(yīng)商;
KLA-Tencor2018年3月從 Keysight Technologies 公司收購了行業(yè)的龍頭產(chǎn)品-高精度原位微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)-Nano Indenter G200和高精度微納米拉伸系統(tǒng)-UTM T150;
該力學(xué)設(shè)備的工廠是高精度力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的供應(yīng)商,1983 年成功制造了首臺(tái)商用Nano Indenter。
該力學(xué)設(shè)備的工廠是業(yè)內(nèi)擁有超過35年的Nano Indenter生產(chǎn)和研究經(jīng)驗(yàn)的供應(yīng)商,成熟的工藝保證了新一代 Nano Indenter G200具有極高的穩(wěn)定性和可靠性。
該力學(xué)設(shè)備的工廠擁有廣泛的顧客群,在高端力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)領(lǐng)域內(nèi)擁有超高的的市場(chǎng)占有率。
1.產(chǎn)品技術(shù)水平
KLA-Tencor 公司擁有最多的Nano Indenter的核心技術(shù),包括已成為業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的連續(xù)剛度測(cè)量功能、接觸剛度成像功能以及快速納米壓入測(cè)試技術(shù)等等;
KLA-Tencor公司的連續(xù)剛度測(cè)量功能已經(jīng)成為薄膜、涂層、多相材料等樣品檢測(cè)最常用的的測(cè)試技術(shù),并已經(jīng)錄入各種力學(xué)領(lǐng)域的國際標(biāo)準(zhǔn)和中國國家標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)。
KLA-Tencor 擁有超快壓痕測(cè)試技術(shù),可達(dá)到 1 壓痕點(diǎn)/秒。
2. 特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
廣受贊譽(yù)的高速測(cè)試選項(xiàng)可以和所有G200 型納米壓痕儀配合使用, 包括DCMII 和 XP 模塊以及樣品臺(tái)
快速進(jìn)行面積函數(shù)和框架剛度校對(duì)
精確和可重復(fù)的結(jié)果, 完全符合
ISO14577 標(biāo)準(zhǔn)
通過電磁驅(qū)動(dòng), 可在無與倫比的范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)整加載力和位移
結(jié)構(gòu)優(yōu)化, 適合傳統(tǒng)測(cè)試或全新應(yīng)用
模塊化選項(xiàng), 適合劃痕測(cè)試, 高溫測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試
強(qiáng)大的軟件功能, 包括對(duì)試驗(yàn)進(jìn)行實(shí)時(shí)控制, 簡(jiǎn)化了的特殊測(cè)試方法的開發(fā)
第五代原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
Nano Indenter G200
在微/納尺度范圍內(nèi)的加載和位移構(gòu)成精確的力學(xué)測(cè)試
應(yīng)用
半導(dǎo)體器件, 薄膜
硬質(zhì)涂層, DLC薄膜
復(fù)合材料, 光纖, 聚合物材料
金屬材料, 陶瓷材料
無鉛焊料
生物材料, 生物及仿生組織等等