QUANTAX EDS 系統(tǒng)擁有**能量分辨率、最大數(shù)據(jù)處理能力及**幾何結(jié)構(gòu)。

**能量分辨率可確保輕元素和低能量的GX分析

新一代 Slim-line 探測(cè)器技術(shù)能在低束流下實(shí)現(xiàn)更高的計(jì)數(shù)率

超高數(shù)據(jù)處理能力實(shí)現(xiàn)最快速測(cè)量

可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一軟件中

敢為人先！

X射線顯微分析是一種在電子顯微鏡中經(jīng)常用到的測(cè)量固體樣品、薄膜、微?；瘜W(xué)成分的分析技術(shù)。該技術(shù)應(yīng)用一種能量色散X射線光譜儀(EDS)能同時(shí)探測(cè)和分析低至Be的所有元素。該技術(shù)從一個(gè)微米級(jí)的樣品區(qū)域獲得元素信息，提供低至0.1%質(zhì)量百分?jǐn)?shù)的檢出限，這些特性使得X射線顯微分析成為最靈敏的分析方法之一。

布魯克電制冷能譜儀duyi無(wú)二的X-Flash硅漂移探測(cè)器(SDD)與ding級(jí)的Hybrid脈沖處理技術(shù)相結(jié)合能獲得**的能量分辨率和比常規(guī)Si(Li)探測(cè)器快十倍的測(cè)量速度。

布魯克電制冷能譜儀配有界面友好、功能強(qiáng)大的ESPRIT軟件。該軟件標(biāo)配中、英文界面。應(yīng)用該軟件可進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣定量分析，和有標(biāo)準(zhǔn)定量分析，或二種方法結(jié)合使用。另外，還可進(jìn)行點(diǎn)、線、面分析，線掃描，面分布，超級(jí)面分布，相分析，顆粒分析，鋼鐵分析，槍擊殘留物分析等等。

QUANTAXESPRIT軟件包

直觀的圖形用戶界面顯示了所有對(duì)分析者而言重要的信息，分析人員一目了然，并可以立即進(jìn)入最常用的功能。
簡(jiǎn)單的操作理念和直觀的向?qū)?，集成?助手"功能，完整的在線幫助，使初學(xué)者能很快熟悉分析系統(tǒng)。

該軟件交互式、循序漸進(jìn)式的譜圖評(píng)價(jià)程序?qū)Ψ治稣叨杂绕渲匾绕涫菍?duì)于非常復(fù)雜的分析任務(wù)來(lái)說(shuō)。而且，該軟件包集成了全球zuixin修訂擴(kuò)展的原子數(shù)據(jù)庫(kù)，一些重要的基本參數(shù)有助于提高定性和定量分析的精度。

該分析軟件的GX性、靈活性和透明性使用戶能很快信服并對(duì)之滿意。