優(yōu)質(zhì)進(jìn)口LuAG:Ce晶體或Ce:LuAG晶體為閃爍體，可根據(jù)用戶要求做成薄片的熒光屏，

典型的直徑范圍為2mm到50mm,厚度范圍為0.1mm到5mm.當(dāng)然我們也可以提供其他各種形狀和大小的探測(cè)器，包括：棱鏡型/球形或薄片型，并提供當(dāng)面拋光，雙面拋光和多面拋光。并提供鋁、或氧化銦錫的窗口等多種選擇。

LuAG:Ce, Lutetium Aluminum Garnet activated by cerium (chemical formula Lu₃Al₅O₁₂), is a relatively dense and fast scintillation material. Its density of 6.73 g/cm³ is about 94% of the density of BGO (7.13 g/cm³). Its decay time is much faster (70 ns) than that of BGO (300 ns). This is of advantage in time dependent and coincidence measurements. The wavelength of scintillation emission is about 535 nm, which is ideal for photodiode and avalanche diode readout. The material can also be used for imaging screens, similarly to YAG:Ce. A particular advantage of LuAG:Ce is its higher density resulting in thinner screens with higher spatial resolution. The material is mechanically and chemically stable, and can be machined into a variety of shapes and sizes including prisms, spheres and very thin plates.

LuAG:Ce晶體或Ce:LuAG晶體可用于電子、X射線、伽瑪射線、UV和EUV的探測(cè)，具有如下典型應(yīng)用：

熒光屏或成像屏
我們提供的閃爍屏或成像屏是由YAG:Ce, LuAG:Ce和YAP:Ce晶體材料構(gòu)成。目前提供如下三種選擇：

*標(biāo)準(zhǔn)的成像屏：直徑可達(dá)50mm,厚度0.5-0.1mm.用于：X射線、電子、UV和EUV的成像。

*帶襯底超薄屏：超薄LuAG:Ce晶體或Ce:LuAG晶體厚度可小到為0.005mm，耦合到光纖光學(xué)、玻璃、石英等襯底上使用。可用的規(guī)格是：厚度為0.010mm直徑最大為40mm, 厚度為0.005mm直徑最大為25mm.

*獨(dú)立薄成像屏: 這種超薄LuAG:Ce晶體或Ce:LuAG晶體成像屏是獨(dú)立使用的閃爍屏，不需要耦合到襯底上。目前可用的規(guī)格如下：

LuAG:Ce晶體或Ce:LuAG晶體成像屏：厚度0.050mm的屏直徑最大是50mm,厚度為0.025mm的閃爍屏的最大資金是10mm;
LuAG:Ce晶體或Ce:LuAG晶體成像屏：厚度0.1mm的屏直徑最大是50mm, 厚度為0.050mm的屏的最大直徑是10mm.
這種獨(dú)立使用的閃爍屏非常脆，極易損壞，為此，我們?yōu)槟峁┝艘环N剛玉外殼用于保護(hù)成像屏，或者可提供陶瓷或鋼鐵外殼保護(hù)。

導(dǎo)光元件
我們?yōu)楦鞣N探測(cè)器提供不同的導(dǎo)光元件，根據(jù)不同的閃爍材料和應(yīng)用，我們提供如下多種材料的導(dǎo)光元件：
有機(jī)玻璃（PMMA),近紫外的特殊有機(jī)玻璃，光學(xué)玻璃BK7, 石英玻璃，有機(jī)玻璃或石英玻璃光纖，藍(lán)寶石，YAG

電鏡探測(cè)器
我們提供獨(dú)具特色的電鏡探測(cè)器采用YAG:Ce,YAP:Ce,CRY18材料制成，特別適合電子探測(cè)和成像，并配備多樣的導(dǎo)光元件，非常方便測(cè)量。
閃爍探測(cè)器：提供多種類型的探測(cè)器用于電鏡，這些探測(cè)器具有工作壽命長(zhǎng)，熒光效率好等特點(diǎn)，提供的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品有：
標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器：SE, BSE,TEM,Dark Field (ADF)
特殊探測(cè)器：帶鏡頭的探測(cè)器，陣列探測(cè)器，陰極熒光探測(cè)器（CL)