產(chǎn)品概述

enVISTA，作為便捷且性能優(yōu)異的TA光譜系統(tǒng)，通過簡單培訓(xùn)，就可以適用于公共實(shí)驗(yàn)室，多學(xué)科研究小組、本科生及研究生實(shí)驗(yàn)室。

enVISTA是一體式平臺(tái)，通過簡單的紫外-可見穩(wěn)態(tài)吸收測(cè)量，定義了紫外/可見TA光譜。我們應(yīng)用噪聲消除技術(shù)使TA光譜記錄的檢測(cè)限(100 ΔnO.D.)并具有完整的2D波長和時(shí)間分辨率。

除了TA光譜，enVISTA還可以用于時(shí)間分辨光致發(fā)光光譜，具有高達(dá)5ns的時(shí)間響應(yīng)，也可用于紫外/可見光譜區(qū)域的穩(wěn)態(tài)吸收測(cè)量。

技術(shù)規(guī)格

系統(tǒng)包含內(nèi)容

?  探測(cè)光源

?  激發(fā)激光

?  所有光學(xué)元件

?  大型模塊化樣品室

?  所有電子產(chǎn)品

?  檢測(cè)系統(tǒng)

?  高性能計(jì)算機(jī)

?  分析和自動(dòng)化軟件

性能圖