柔性電子材料及其應(yīng)用

柔性電子是將無機(jī)/有機(jī)器件附著于柔性基底上形成電路的技術(shù)。相對于傳統(tǒng)硅電子,柔性電子是指可以彎曲、折疊、扭曲、拉伸、甚至變形成任意形狀但仍保持高效光電性能、可靠性和集成度的薄膜電子器件。柔性電子涵蓋有機(jī)電子、塑料電子、生物電子、納米電子、印刷電子等,包括:RFID、柔性顯示、有機(jī)電致發(fā)光(OLED)顯示與照明、化學(xué)與生物傳感器、柔性光伏、柔性邏輯與存儲、柔性電池、可穿戴設(shè)備等多種應(yīng)用。

柔性電子材料動態(tài)測試

柔性電子材料在使用過程中會被反復(fù)彎折扭曲,在此過程中材料表面和內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài)和微觀結(jié)構(gòu)都會逐漸發(fā)生變化,進(jìn)而影響材料的電學(xué)性能和壽命。用多次反復(fù)彎折扭曲等方法來測試柔性材料的耐疲勞性,穩(wěn)定性和壽命衰減特性已經(jīng)逐漸成為柔性電子器件不可缺少的表征手段。

柔性電子材料動態(tài)測試難點(diǎn)

為了保證柔性電子的正常使用，柔性測試時尤其要注意柔性材料折疊裝置與I-V測試設(shè)備材料應(yīng)用在電路中時必須要對柔性材料的電學(xué)特性做一個詳細(xì)的了解。因?yàn)槿嵝圆牧显谛巫兒笏淖杩箷l(fā)生變化,并且形變程度不同,阻抗的變化也不同。需要進(jìn)行1-V特性測試,并實(shí)時監(jiān)測V-t、1-t以及R-t的變化曲線，且在測試時尤其要注意柔性材料折疊裝置與I-V測試設(shè)備間的同步問題。傳統(tǒng)測試柔性電子材料的電學(xué)特性都是人工測量,需要一臺電壓源,電流表,再手動算出電阻值的變化。而電源或者萬用表只能當(dāng)作源或者表來使用,相互搭配完成I-V測量,不能滿足一機(jī)多用的測試場景,而且對于測量精度要求較高及與折疊裝置同步要求精度高的場景無法保證。    

測試面臨的挑戰(zhàn)

依賴手動測試，缺乏標(biāo)準(zhǔn)化的測試系統(tǒng)

缺少軟件,難以實(shí)時監(jiān)測I-V的變化曲線

普賽斯提供標(biāo)準(zhǔn)化、高效率“動態(tài)’測試系統(tǒng)

配備多種測試系統(tǒng)夾具

可以模擬出拉、扭、彎、擇、卷等5種基本動作，11個基礎(chǔ)模擬測試動作;配套軟件，自動描繪材料的I-V的曲線。

普賽斯深耕半導(dǎo)體I-V測試領(lǐng)域,一-直致力于自主研發(fā)國產(chǎn)源表產(chǎn)品,并率先推出S系列高精度數(shù)字源表,集電壓、電流的輸入輸出及測量等功能于一體,同時還可以作為電子負(fù)載來吸收能量。蕞大電壓300V,最小電流100pA,輸出精度達(dá)到0.1%,蕞大功率為30W,實(shí)現(xiàn)快速、晶準(zhǔn)的測量材料的電參數(shù),廣泛應(yīng)用于印刷電極、導(dǎo)電高分子、石墨烯、傳感器、柔性太陽能電池、OLED以及電子皮膚等柔性電子材料的I-V特性測試場景。

 武漢普賽斯一-直專注于半導(dǎo)體的電性能測試儀表開發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢,率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表等產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體器件材料的分析測試領(lǐng)域。欲了解更多數(shù)字源表IV掃描電子皮膚電性能參數(shù)的信息,歡迎隨時來電咨詢