?

標準：ASTM E2546

UNHT3 高精度超納米壓痕測試儀采用真實力傳感器和位移傳感器，可用于測量材料在納米尺度下的機械性能。UNHT3 采用獨特的主動表面參比ZG技術，消除了熱漂移和框架剛度的影響。因此，非常適用于對所有類型的材料（包括聚合物、納米涂層和軟組織）進行原子到納米尺度的長時間測量。

最精確的納米壓痕測試儀

UNHT3 可測量他人估計的結果：兩個獨立的位移和載荷傳感器可真正可靠地控制力和壓入深度。另外，UNHT3 采用獨特的主動表面參比ZG設計：參考參比針尖記錄樣品的表面位移位置，同時針尖壓痕完成測量，以此扣除熱漂移和框架剛度影響。這種獨特的設計支持大范圍的壓入位移（從幾 nm 到 100 μm）和壓入載荷（從幾 μN 到 100 mN）。

市場上穩(wěn)定性最高的納米壓痕測試儀

UNHT3 采用獨特的主動表面參比ZG技術和無熱膨脹的 Zerodur 材質，是市面上WY一款無需任何位移校正且熱漂移低至可忽略不計 (10 fm/sec) 的納米壓痕測試儀。憑借獨特的穩(wěn)定性，UNHT3 是WY可用來長期測量蠕變等測試的納米壓痕測試儀。

高效率和測量速度（每小時測量 >600 次）

借助該儀器獨特的熱穩(wěn)定性，樣品在安裝后即刻便能進行測量，不必等待數(shù)小時以便其達到熱穩(wěn)定狀態(tài)。因此，每天可單獨測量許多樣品。使用“快速點陣”模式，每小時可通過真實的壓痕曲線和 600 多個壓痕。另外，用戶配置、測量模式、多樣品測量和可定制報告也促使其成為市面上效率最高的儀器。

通過“Sinus 動態(tài)測量模式”進行其他動態(tài)機械分析 (DMA)

使用集成的“Sinus 動態(tài)測量模式”，可以對機械特性進行位移曲線 DMA 分析（HIT、EIT 對比位移），并可測量薄膜到塊狀材料等樣品的粘彈特性（E'、E''：儲能和損耗模量、tan δ）。Sinus 動態(tài)測量模式還提供其他功能，例如壓痕儀快速校正以及應力/應變分析。

技術參數(shù)：

(1) 可選

(2) 帶環(huán)境腔體

ZG

UNHT3 的主動表面參比技術：US 7,685,868 B2