J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)用于高效分析LIBS光譜和時(shí)間分辨ICP-MS信號(hào)，分析人員可以在樣本圖像上編寫任意的激光采樣模式的程序，包括光柵線、曲線、隨機(jī)點(diǎn)、任意大小的網(wǎng)格和預(yù)先編程的圖案，能夠快速而準(zhǔn)確地識(shí)別復(fù)雜的LIBS發(fā)射峰。特定的搜索標(biāo)準(zhǔn)(波長范圍、元素組、等離子體激發(fā)狀態(tài))可以用來在短時(shí)間內(nèi)縮小搜索范圍。TruLIBS?允許用戶從Axiom LA軟件直接加載實(shí)驗(yàn)庫LIBS光譜來識(shí)別和標(biāo)記峰值。

微粒沖洗性能：

根據(jù)測量目標(biāo)(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個(gè)性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化，指標(biāo)包括：沖洗時(shí)間、顆?；旌稀悠肥覂?nèi)的流動(dòng)特性。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、針對雙重LA/LIBS性能而設(shè)計(jì)的緊湊、模塊化系統(tǒng)，J200系統(tǒng)的duchuang性在于其模塊化系統(tǒng)的設(shè)計(jì)；

2、自動(dòng)調(diào)整樣品高度，保證激光剝蝕的一致性J200采用了一種自動(dòng)調(diào)高傳感器，該傳感器的設(shè)計(jì)考慮到了樣品表面的形態(tài)變化；

3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室，以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能根據(jù)測量目標(biāo)(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)軟件中的PCA工具是使用LIBS、質(zhì)譜或兩個(gè)光譜對各種樣品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地質(zhì)礦物等)進(jìn)行分類或鑒別的理想方法，能瞬時(shí)監(jiān)測所選元素的LIBS發(fā)射峰值強(qiáng)度，揭示不同樣品深度處元素組成的變化。DepthTracker?對于確定樣品表面的污染物、執(zhí)行涂層分析、了解薄膜結(jié)構(gòu)以及識(shí)別位于其下方的夾雜物是一項(xiàng)非常有價(jià)值的功能，可以輕松地估計(jì)集成強(qiáng)度和RSD值。同時(shí)，時(shí)間分辨ICP-MS信號(hào)也可以非常流暢，并且可以輕而易舉地獲得TRSD（時(shí)間相對標(biāo)準(zhǔn)偏差）統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)值。