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延遲探測器（Delayline Detectors）
- 品牌：昊量/auniontech
- 產地：上海 徐匯區(qū)
- 供應商報價：面議
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上海昊量光電設備有限公司
更新時間：2025-04-22 10:04:54 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
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詳細介紹
延遲探測器
延遲探測器（delayline Detectors）具有出色的時間分辨率、高達幾十MHz采樣和動態(tài)1D/2D /3D直方圖，將微觀粒子分析提升到高速測量的新水平。如上圖，微通道板探測器（MCP）提供了高性能電子、離子及光子成像。如果應用程序進行單事件分析，則MCP的延遲探測器（Delayline Detectors）讀出是很好的選擇，因為Delayline檢測器（DLD）能夠實現(xiàn)真正的單事件計數(shù)，具有高信噪比和高時間分辨率。
延遲探測器（Delayline Detectors）讀出在所有時間分辨MCP讀出系統(tǒng)中具有優(yōu)勢，因為它們提供的時間切片圖像具有很高強度線性，時間窗口低至100ps以下。
延遲探測器（Delayline Detectors）關鍵參數(shù)
Active Diameters 10mm - 120mm Lateral Resolution down to 50μm Imaging Countrate (Permanent Random) > 5 million counts/s Imaging Countrate (Special Layouts) > 20 million counts/s Max. Burst Rate up to 100 million counts/s equivalent Multi-Hit Designs >= 4 hits High Voltage Floating Capability up to 10kV Time Bin Resolution 6.8ps Typical Time Resolution (Position Integrated) < 200ps Start Repetition Rate max. 9MHz Standard COMS USB 3.0 & GBit LAN 延遲探測器（Delayline Detectors）配置示意圖
延遲探測器（Delayline Detectors）應用領域：
電子和離子的飛行時間分析（TOF）
時間相關或時間符合光子和粒子成像
用于X射線和電子能譜的門控成像
檢測尺寸達120mm的大面積計數(shù)成像(XPS, UPS, EELS)
電子能量和飛行時間分析儀(XPS, UPS, EELS)
飛行時間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)
中能離子散射與飛行時間分析(MEIS - ToF)
原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)
X射線吸收/發(fā)射光譜(XAS, XES)
門控對比增強X射線皮秒成像
熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)
滬公網安備 31011502008050號