Exemplar Plus LS采用低雜散非交叉光路設(shè)計和高靈敏TE致冷背照式CCD陣列檢測器，是理想的高性能光譜測量產(chǎn)品。得益于寬動態(tài)范圍和低雜散光，使其更加適合透過與吸光度檢測。高靈敏度和優(yōu)異的信噪比使其更加適合弱光信號的測量，是熒光光譜和拉曼光譜應(yīng)用的**選擇。

特點：

高紫外可見近紅外光譜響應(yīng)

TE致冷，zuidi可致冷至比室溫低25℃

峰值量子效率大于90%，200nm處量子效率大于60%

超低雜散光，<0.02% @ 400 nm

光譜范圍180-1100nm，最小光譜分辨率0.1nm

**信噪比可至4800:1

應(yīng)用：

吸收/透射光譜分析

熒光光譜/拉曼光譜應(yīng)用

在線過程監(jiān)控

生物醫(yī)學(xué)/農(nóng)業(yè)食品

大氣水質(zhì)分析

弱光信號光譜檢測