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布魯克 電子背散射衍射儀 EBSD eflash FS

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  • 核心參數(shù)

    產(chǎn)地類別:進(jìn)口

    CCD相機(jī)分辨率:640 x 480

    極限速度:最快移動速度可達(dá) 10mm/s

    空間分辨率:1.5 nm

    角分辨率:0.2°

    QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器,是分析 SEM 中納米材料的理想化解決方案。原因如下:

    • 提供 1.5 nm 的空間分辨率

    • 在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測試電流進(jìn)行測試

    • 在使用浸入式透鏡模式的超高分辨 SEM 下工作的僅有的 TKD 解決方案

    • 全自動內(nèi)置 ARGUS 成像系統(tǒng)


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