-
-
CAMECA 場發(fā)射電子探針 SXFiveFE
- 品牌:Cameca
- 型號: SXFiveFE
- 產地:歐洲 法國
- 供應商報價:面議
-
法國cameca公司
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產品
立即掃碼咨詢
聯系方式:400-822-6768
聯系我們時請說明在儀器網(www.yn180.com)上看到的!
掃 碼 分 享
詳細介紹
- Cameca EPMA歷史悠久
電子探針微區(qū)分析(EPMA)的歷史和CAMECA緊緊相連。作為在1950年代開創(chuàng)此技術的先驅,CAMECA公司研發(fā)、推廣并支持了若干代EPMA儀器。今天,全世界有超過700臺CAMECA的電子探針在運行,在地球化學、礦物學、地質年代學、物理及核冶金、材料科學(包括水泥、玻璃、陶瓷、超導體)、生物化學、微電子學等領域實現高精度的定性與定量化學微區(qū)分析。
超級的分析性能
通過提供更高、更穩(wěn)定的束電流,以及比其他現有儀器(如SEM-EDS)更好的信號峰背景比,基于WDS的CAMECA電子探針是**實現主量和痕量元素精確定量分析的儀器。
現在,場發(fā)射源的引入,優(yōu)化了低電壓和高電流,在微區(qū)定量分析中,可實現最小的激活體積和盡可能高的空間分辨率。
擁有場發(fā)射源的超級分析平臺
SXFive和SXFiveFE的新特色
場發(fā)射源或W/LaB6源
新電子光學系統提供了更高的分辨率
優(yōu)化的真空系統提供更優(yōu)的檢出能力,對于輕元素有重要意義
環(huán)形的法拉第杯帶來增強的可靠性
自動化程度更高,更大產率
從W/LaB6源升級為場發(fā)射源可在現場完成
SXFive和SXFiveFE帶來了CAMECA早期的電子探針顯微分析儀所有優(yōu)勢,同時提供了duyi無二的場發(fā)射電子束和CAMECA業(yè)界領xian的高靈敏度和高分辨率的譜儀的結合。這種duyi無二的組合代表了在微區(qū)分析上的重大突破。
這些特色,以及可靠性的改善,和重新設計的電子束,集大成于一個多功能顯微分析儀,可提供無與倫比的顯微定量和超高空間分辨率的X射線成像能力。
滿足您需求的兩種儀器配置:
SXFive 配置多功能W/LaB6源
SXFive配置有多功能電子槍,可使用高功率(最高30KV)的鎢燈絲或一個LaB6陰極可得到更好的橫向分辨率。歸功于電子槍中高達10-6Pa的真空度,這款儀器可以在W和LaB6燈絲之間在數小時內方便快捷地進行切換。
在10kv,100nA的實驗條件下,使用SXFive的LaB6陰極,可得到0.5um的分析分辨率,使在微小的區(qū)域內測量含量小于0.01%的痕量元素成為可能,并能得到良好的統計精度。
SXFive可升級為SXFive FE
SXFive FE 配置場發(fā)射源
對于要求超高分辨率的應用,CAMECA開發(fā)了場發(fā)射源:
- 提高了橫向分辨率
- 對于痕量元素的分析應用,保持高電流。
歸功于其場發(fā)射源,SXFive FE在中等加速電壓下允許使用小尺寸探頭,從而保證高橫向分辨率。在10KV,100nA條件下,可獲得150nm直徑的電子束,確保高質量的微量和痕量元素分析。和常規(guī)EPMA一樣,高能量和高束電流也可被選擇,用于進行定量分析。
**的WDS
波長色散光譜被認為是高精度定量分析的方法,基于CAMECA的獨特設計,SXFive和SXFiveFE的譜儀具有業(yè)內最高的分辨率,因此具有高信號峰背景比,從而提供了高靈敏度。的譜峰位置由依附于系統的光學編碼器提供,只需要單峰便可對整個譜儀范圍進行校準。
根據應用的不同,最多可裝5個WDS譜儀(另加一個EDS譜儀)可配置在儀器上。所有的譜儀有一個160mm的羅蘭圓,電子束分離窗和差分抽氣保證了譜儀和衍射晶體不受試樣艙樣品帶來的任何污染。
由于CAMECA波譜儀的獨特設計,15秒內即可掃描完整個譜儀。
安裝在一個400的角度,WDS譜儀是線性的和全聚焦的。譜儀的機件優(yōu)化為最少的移動部件(非輪帶驅動機械),從而保證了首屈yi指的重復性和可靠性。
經過在工廠的預校準,CAMECA波譜不需要日常的維護和重新調諧。
高強度的晶體
CAMECA提供各種類型的晶體,覆蓋元素周期表上從Be開始的元素。
大晶體、寬的波譜儀范圍、高信號峰背景比實現快速的WDS分析
現在,為實現超高靈敏度的B和N分析的特殊的大晶體已由CAMECA開發(fā)出來,并可配置在SXFive和SXFiveFE上;對于輕元素(Be到F),可選用多層晶體。
CAMECA的譜儀可垂直,也可傾斜安裝在儀器上。
傾斜安裝(CAMECA的獨有設計)特別適用于表面粗糙的標本分析或映射;也非常適合于峰移研究。
WDS和EDS同時數據采集
SXFive可以配置一個能譜用于快速礦產/相鑒別,或配置波譜儀用于定量和成像模式。
如果配置EDS/WDS可實現高通量產率,如用EDS測得主量元素,用WDS測得痕量元素。
您可能感興趣的產品
-
CAMECA 場發(fā)射電子探針 SXFiveFE
-
CAMECA 場發(fā)射電子探針 SXFiveFE
-
EPMA-8050G 場發(fā)射電子探針
-
島津EPMA-8050G場發(fā)射電子探針
-
島津場發(fā)射電子探針EPMA-8050G
-
JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
-
JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
-
JEOL場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F
-
場發(fā)射電子顯微鏡
-
場發(fā)射掃描電鏡-國儀量子場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000Pro
-
場發(fā)射透射電子顯微鏡
-
臺式場發(fā)射掃描電鏡