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顆粒物排放連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)(PM CEMS)

品牌：賽默飛
型號： Model 3880i
產地：美洲美國
供應商報價：面議

賽默飛化學分析儀器更新時間：2024-05-24 11:33:56

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

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詳細介紹

產品簡介

賽默飛顆粒物排放連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)的特點是采用兩種測量方式，測量結果是可溯源至NIST標準的真正質量濃度，可以滿足日益嚴格的精度要求。

主要特點

連續(xù)測量可過濾顆粒物
不會受顆粒物特性變化的影響
設計滿足美國EPA PS-11的要求
TEOM方法進行內部質量參比校正

先進的技術

我們的顆粒物CEMS綜合了光散射法和質量微天平方法的優(yōu)點，可以準確測量煙氣中顆粒物濃度。系統(tǒng)不受顆粒物大小、化學組成變化的影響，系統(tǒng)通過重量參比法進行線性修正。系統(tǒng)設計滿足美國 EPA性能規(guī)范PS-11、質量保證程序Procedure 2的要求，并通過了審核程序Method 5或17的驗證。

受電廠燃料、工藝過程、控制參數的影響，煙氣顆粒物的變化性和動態(tài)特性變化非常強。顆粒物CEMS采用光散射、錐形微量振蕩天平（TEOM）雙測量原理，可以辨別質量濃度變化還是顆粒物其它特性變化。錐形微量振蕩天平（TEOM）是質量傳感器，對連續(xù)測量的光散射設備進行內部參比校正。

顆粒物CEMS采用稀釋抽取法，允許更低的傳輸溫度，并可以減少維護量，提高系統(tǒng)使用壽命和運行時間。按一定比例稀釋的樣品被抽取進入光散射平臺，這一部分進行系統(tǒng)連續(xù)測量。在一個可選擇的時間表中，樣品通過光散射平臺后，進入TEOM慣性微量天平平臺對光散射響應換算為真正的質量濃度。

顆粒物CEMS由稀釋抽取探頭，Model 3880i探頭控制器，氣動電氣管束組成。煙道流速可以通過模擬量、數字化通訊方式輸入進入系統(tǒng)，儀表氣清潔系統(tǒng)和機箱空調都是可選項。

技術參數

量程	0–250 mg/m3(可適用于0-5mg/m3低濃度排放監(jiān)測）
準確度	± 20%未進行污染源校正；± 10%污染源校正后
檢測限	0.25 mg/m3 @ 15分鐘整合時間
響應時間（T90）	15 分鐘
電源	200–240 VAC @ 50/60 Hz, 30A
儀表氣	80 slpm @ 0.55~0.7MPa（75–100 psi）
探頭尺寸	1117.85mm (寬)+ 914/1524mm護套 X 474.73mm (高) X 07.09mm (深)
探頭重量	59 Kg
探頭控制器尺寸	482.6mm（19”）(寬) X 18.95mm（8.62”）(高) X 655.32mm（25.8”）(深)
探頭控制器重量	25 Kg.
最高煙氣溫度	200℃(更高溫度需向工廠確認)
環(huán)境溫度	探頭控制器操作溫度4–50 ℃; 無凝結水
模擬量輸出	6 路電壓 0–100 mV, 1, 5, 10 V；6 路電流 0-20 mA, 4-20 mA
開關量輸出	1 路電源故障, 10 路繼電器