XTU-4C 是一款設計結(jié)構緊湊，模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀，C 型開槽設計樣品腔， 讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測，同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

1) 搭載微聚焦加強型 X 射線發(fā)生器和先進的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)

2) 擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍 0-30mm

3) 核心 EFP 算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數(shù) 據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上 Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層 Ni 和第三層 Ni 的厚度)

4) 配備高精密微型移動滑軌，可實現(xiàn)多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

5) 可同時分析 23 個鍍層，24 種元素，測量元素范圍:氯 Cl(17)- 鈾 U(92)，涂 鍍層分析范圍:鋰 Li(3)- 鈾 U(92)，涂鍍層zui低檢出限:0.005μm

6) 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作 

7) 標配四準直器自動切換，zui小測量面積可達 0.002mm2 

8) 配有微光聚集技術，zui近測距光斑擴散度小于 10%