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EVG610 BA晶圓對準設(shè)備
- 品牌:EVG
- 型號: EVG610
- 產(chǎn)地:歐洲 奧地利
- 供應(yīng)商報價:面議
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岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司
更新時間:2024-08-07 14:35:12
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銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品對準設(shè)備(1件)
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為您推薦
產(chǎn)品特點
- 晶圓缺陷檢測設(shè)備專為晶圓與晶圓對準設(shè)計,晶圓尺寸大可達150 mm。EV Group鍵合對準系統(tǒng)提供手動高精度帶有底部顯微鏡的校準臺。EVG的鍵合對準系統(tǒng)的精度能滿足MEMS生產(chǎn)和3D集成應(yīng)用等新興領(lǐng)域中苛刻的對準要求。
詳細介紹
- 晶圓缺陷檢測設(shè)備用于晶圓到晶圓對準的手動鍵合對準系統(tǒng),適用于學校和工業(yè)研究。一、簡介
EVG610鍵合對準系統(tǒng)專為晶圓與晶圓對準設(shè)計,晶圓尺寸zui大可達150 mm。EV Group鍵合對準系統(tǒng)提供手動高精度帶有底部顯微鏡的校準臺。EVG的鍵合對準系統(tǒng)的精度能滿足MEMS生產(chǎn)和3D集成應(yīng)用等新興領(lǐng)域中苛刻的對準要求。
二、特征
zui適用于EVG501和EVG510鍵合系統(tǒng)晶圓和基板尺寸可達150/200 mm手動高精度對準手動底側(cè)顯微鏡基于Windows系統(tǒng)的用戶界面*的多用戶概念(無限數(shù)量的用戶帳戶,各種訪問權(quán)限,不同的用戶界面語言)桌面系統(tǒng)設(shè)計,占地面積zui小支持IR對準過程研發(fā)和試生產(chǎn)線的zui低的擁有成本(TCO)?
三、技術(shù)參數(shù)1.基本配置:臺式機架:可選隔振模式:被動2.對準方式:背部對住精度:±2μm 3 σ透射對準精度:±1μm 3 σ紅外對準:可選3.對準臺:高精度測微計:手動可選:機械測微計楔形補償:自動