分享 收藏

量子效率測定系統(tǒng)QE-2000

北京先鋒泰坦科技有限公司更新時(shí)間：2025-04-29 11:22:18

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

立即掃碼咨詢

聯(lián)系方式：13810146393

聯(lián)系我們時(shí)請說明在儀器網(wǎng)（www.yn180.com）上看到的!

掃碼分享

為您推薦

詳細(xì)介紹

QE-2000 使用高精度測量儀（注1），利用激發(fā)光和熒光的光量子數(shù)求得量子效率（量子產(chǎn)額），從而實(shí)現(xiàn)絕對的高精度測量。

此前方法		QE2000
粉劑試料	用配光法（測量空間分布）測量	使用積分半球測量	?操作簡單 ?短時(shí)間內(nèi)即可測出 ?裝置簡單精巧 ?不需要暗室
粉劑試料	量子效率（量子產(chǎn)額）對比測量已知試料與對象試料	只測量對象試料使用積分半球測量	?短時(shí)間內(nèi)即可測出 ?不需要其他準(zhǔn)備測試（吸光度測試等） ?不需要已知試料的量子效率（量子產(chǎn)量），不依賴于已知試料的精度

注1：根據(jù)計(jì)量法校正企業(yè)登錄制度（JCSS），按照國家標(biāo)準(zhǔn)可追蹤標(biāo)準(zhǔn)光源進(jìn)行校正。

量子效率（量子產(chǎn)額）的測量示意圖

參考值以及樣品的激發(fā)光、熒光光譜的測量示例

注2：熒光體試料所吸收的光量子數(shù)

量子效率測定系統(tǒng)QE-2000的優(yōu)點(diǎn)

實(shí)現(xiàn)絕對測量的大塚電子專注于以下3 點(diǎn)。

專注于高精度測量

專注于簡單操作

專注于全面測量

- 測量量子效率（量子產(chǎn)額）

- 測量激發(fā)波長依賴性

- 測量發(fā)光光譜

- 測量PL 激發(fā)光譜

- 測量EEM（Excitation Emission Matrix）

應(yīng)用領(lǐng)域

量子效率測定系統(tǒng)QE-2000產(chǎn)品規(guī)格

樣式	3683c		311c		2580c			3095c
測量波長范圍	360~830nm		360~1100nm		250~800nm			300~950nm
1 像素的波長寬度光接收像素CH 數(shù)	1.0nm	0.5nm	1.6nm	0.8nm	1.2nm		0.6nm	1.4nm	0.7nm
	512ch	1024ch	512ch	1024ch	512ch		1024ch	512ch	1024ch
像素	電子冷卻式CCD 圖像傳感器
位深	16 位
分光器光學(xué)配置	背底（flatfield）型F=3,f=85.8mm
激發(fā)光源
光源	150W Xe 燈
激發(fā)波長	250~800nm
帶寬	FWHM 5nm/Slit 0.6mm
樣品抗光降解	自動關(guān)閉裝置
激發(fā)波長控制	自動控制
積分球
材質(zhì)	Spectralon（美國Labsphere 公司**材料名無中文）
尺寸	150mm 半球(HalfMoon)
樣品固定治具
粉劑測量固定治具	SUS304 制，無石英蓋
溶液測量用固定治具（常溫）	石英制溶液容器（開放型）
功耗
電源電壓	AC100~120V/AC 200~230V
軟件
	量子效率（量子產(chǎn)額）測量量子效率（量子產(chǎn)額）的激發(fā)波長依賴特性反射光譜測量 PL 激發(fā)光譜 EEM（Excitation Emission Matrix）顯示					二次激發(fā)校正發(fā)光光譜測量透過?吸收光譜測量顏色演算（色度、色溫、演色性等）