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Thermo Scientific? ARL? EQUINOX Pro立式X 射線衍射儀

品牌：賽默飛
型號： ARL? EQUINOX Pro
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報價：面議

賽默飛化學(xué)分析儀器更新時間：2024-05-24 11:33:56

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品X射線衍射儀(5件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光學(xué)的立式X射線衍射儀。這款儀器基于“整體最優(yōu)”設(shè)計原則，憑借先進(jìn)的軟、硬件配置，實(shí)現(xiàn)儀器系統(tǒng)運(yùn)行的整體優(yōu)化，提升儀器分析的準(zhǔn)確性、精確性、易用性和安全性。這款儀器能夠出色地完成各類粉末晶體的衍射分析，廣泛地應(yīng)用于材料研發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量控制的相關(guān)領(lǐng)域。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹：

Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光學(xué)的立式X射線衍射儀。這款儀器基于“整體zui優(yōu)”設(shè)計原則，憑借先進(jìn)的軟、硬件配置，實(shí)現(xiàn)儀器系統(tǒng)運(yùn)行的整體優(yōu)化，提升儀器分析的準(zhǔn)確性、精確性、易用性和安全性。這款儀器能夠出色地完成各類粉末晶體的衍射分析，廣泛地應(yīng)用于材料研發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量控制的相關(guān)領(lǐng)域。

新型電控測角系統(tǒng)：zui新的小型化和分散化電機(jī)控制系統(tǒng)，可克服由于驅(qū)動電機(jī)失步或超步引起的位置誤差，提高測角儀的整體控制精度和重復(fù)性

先進(jìn)光子探測技術(shù)：前沿PTPC(脈沖觸發(fā)實(shí)時位置)計數(shù)技術(shù)，通過同步脈沖觸發(fā)探測器的電子門控電路，將測角儀實(shí)際到達(dá)位置與探測器響應(yīng)進(jìn)行同步，實(shí)現(xiàn)探測器計數(shù)與測角儀位置的精確對應(yīng)，將角度位置與信號采集精確控制在行業(yè)先進(jìn)級別

魔卡免維護(hù)設(shè)計：光路魔卡設(shè)計系統(tǒng)和機(jī)械誤差動態(tài)補(bǔ)償技術(shù)，通過整個光路系統(tǒng)上的組件、光源高低、傾角、狹縫架高低、探測器的魔卡設(shè)計，支持用戶在切換光路和樣品臺后無需再次校正，直接使用儀器

幫助生產(chǎn)過程更高效，降低生產(chǎn)成本

精準(zhǔn)監(jiān)控原材料品質(zhì)，確保產(chǎn)品質(zhì)量高標(biāo)準(zhǔn)

嚴(yán)格遵循流程和法規(guī)，助力研發(fā)效率再提升

性能示例

卓越的角度準(zhǔn)確性

測試國際標(biāo)樣NIST1976 剛玉片，在整個2θ范圍內(nèi)，角度線性度遠(yuǎn)優(yōu)于±0.01°，極限可達(dá)0.007°，可提供優(yōu)異的儀器校準(zhǔn)，支持準(zhǔn)確可靠的分析。

領(lǐng)先的角度分辨率

測試國際標(biāo)樣NIST 660 LaB6粉末，顯示半峰寬<0.026°2θ,立式XRD中的佼佼者。

優(yōu)異的低角度衍射性能

測試MCM41樣品，EQUINOX Pro顯示出良好的低角度衍射性能，zui低可從0.3°起測。

超凡的能量分辨率

測試磷酸鐵鋰樣品，可以看到EQUINOX Pro所配備的能量色散探測器具備超凡的能量分辨率，能夠有效去除過渡金屬熒光背景，大幅提高信噪比。

超高強(qiáng)度/速度

640通道強(qiáng)度=2.5*256通道強(qiáng)度
640通道強(qiáng)度=3*192通道強(qiáng)度
640通道強(qiáng)度=5*128通道強(qiáng)度

超高信噪比

640通道：12.9
256通道：8.2
192通道：6.7
128通道：5.2

強(qiáng)大的軟件分析功能

可快速對各種粉末衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行物相識別

能夠使用從COD 計算出的免費(fèi)參考圖譜、或任何 ICDD PDF數(shù)據(jù)庫、和/或您自己的衍射圖譜或晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)進(jìn)行物相識別

可以使用創(chuàng)新的輪廓擬合搜索匹配算法或經(jīng)典的基于峰值的搜索匹配算法進(jìn)行定性分析

可使用參考強(qiáng)度比法(RIR)、Rietveld細(xì)化法、DD法、結(jié)晶度(DOC)和/或內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行定量分析

指標(biāo)化(可調(diào)用Treor或 Dicvol程序)

晶體結(jié)構(gòu)解析(可調(diào)用Endeavour 程序)

可進(jìn)行Rietveld細(xì)化和譜圖分解(Le Bail方法)計算

可進(jìn)行限制檢索，即時使用附加信息(已知物相、元素、密度、顏色等)

自動的原始數(shù)據(jù)處理

使用鼠標(biāo)進(jìn)行背景定義/修改

使用鼠標(biāo)可以方便地編輯峰值（添加/移位、刪除/適合）

使用鼠標(biāo)或?qū)υ捒蚋倪M(jìn)了縮放和跟蹤功能

可對多組衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行三維顯示，例如當(dāng)需要比較數(shù)據(jù)時

基于Scherrer 法的晶體尺寸估算

該軟件可在Windows、macOS 和Linux上運(yùn)行，并兼容市面上幾乎所有廠商衍射數(shù)據(jù)格式

豐富的樣品杯選擇

原位附件

規(guī)格參數(shù)

X射線光源	高壓發(fā)生器：3kW或4kW可選 X射線光管靶材：Cr、Co、Cu、Mo、Ag可選
探測器	零維探測器：閃爍計數(shù)器一維探測器：MYTHEN2系列二維探測器：ELGER2 R系列或ADVAPIX系列
測角儀	θ/θ幾何結(jié)構(gòu)(樣品水平) 測角儀半徑：Max.300 mm,連續(xù)可調(diào) 測角儀技術(shù)：帶光學(xué)編碼的伺服電機(jī)閉環(huán)控制	測角儀運(yùn)動范圍： -110°<2θ<+168° 測角儀zui小步長：0.0001°
計算機(jī)	Windows10或11
主控軟件	儀器控制及數(shù)據(jù)采集軟件—Measurement Scan
軟件	數(shù)據(jù)分析軟件 — Match!或MDUA DE
晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫	ICDD PDF或COD或PCD
供電	230 V交流單相50 Hz
重量	~650 kg
尺寸(高寬深)	1923 mm x 1300 mm x 1135 mm
分辨率	FWHM<0.026°(LaB6 (110))
準(zhǔn)確性	全范圍不超過+/-0.01°