該儀器適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，

其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

試驗(yàn)箱箱體：

1、用于試驗(yàn)各種材料進(jìn)行高低溫環(huán)境模擬的可靠性能。可對(duì)溫度和同時(shí)進(jìn)行控制。
2、內(nèi)腔空間容積：800L

   內(nèi)箱尺寸：500*500*600MM ,外箱尺寸：750*1220*1660MM
3、溫度范圍：-70℃～150（任意調(diào)節(jié)）
4、范圍：20%～98%（任意設(shè)定）
5、升降溫速率：室溫至150℃，約60分鐘（約3.5℃/分鐘）；室溫至0℃，約15分鐘（約1.2℃/分鐘）
6、溫度解析精度：0.01℃；溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃；溫度均勻度：≤2.0℃；溫度偏差：≤±2.0℃
7、解析精度：0.1%RH；波動(dòng)度：≤±2.5%RH；均勻度：≤±3.0%RH；偏差：大于75%R.H時(shí)，≤+2.0/-3.0%RH；小于75%R.H時(shí)，≤±5.0%RH
8、具有漏電/突波防止保護(hù)、溫/感應(yīng)器斷路或短路、三層超溫保護(hù)、壓縮機(jī)保護(hù)、故障異常保護(hù)、動(dòng)態(tài)高低溫保護(hù)等保護(hù)措施。

技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、范圍：10%～98%R.H（溫度在25℃～80℃）
3、溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
4、溫度均勻度：≤±2℃
5、波動(dòng)度：+2%、-3%R.H
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min
7、降溫速率：0.7～1.2℃/min
8、時(shí)間設(shè)定范圍：0～9999h
9、電源電壓：AC380V/50HZ

（防爆型）執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.

GB/ T 2421-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則.

GB/ T 2423.21- 1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:高/低氣壓試驗(yàn)方法 .

GB/ T 2423.25- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法 .

GB/ T 2423.26- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法 .

GB/T2423.3-89電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)規(guī)程，恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.4-89交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗(yàn).

GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.

防爆等級(jí)：ExdBT4

GJB/150A-2009.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法