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東譜科技穩(wěn)態(tài)表面光電流/光電壓測量儀SteaPVC
- 品牌:東譜
- 型號: SteaPVC
- 產(chǎn)地:廣東 廣州
- 供應商報價:面議
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東譜科技(廣州)有限責任公司
更新時間:2024-08-23 09:10:14
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銷售范圍售全國
入駐年限第5年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品瞬態(tài)光電荷測量系統(tǒng)(6件)
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產(chǎn)品特點
- SteaPVC是 Orienlal Spectra(下稱0S)針對光催化、半導體、MOF(Metal-Organic Framework)等光電領域推出的穩(wěn)態(tài)表面光電流/光電壓測量儀。SteaPVC 是TranPVC(瞬態(tài)光電流/光電壓/光電荷測量儀)的姐妹產(chǎn)品,共同為行業(yè)提供了完善的穩(wěn)、瞬態(tài)光電流、光電壓、光電荷測量的產(chǎn)品方案。SteaPVC基于相敏檢測技術開發(fā)而成,可以在不同的激勵光波長下對超微弱穩(wěn)態(tài)光電流、光電壓信號進行檢測;集成了多種測量模式,可以便捷得到波長依賴的光電流譜、光電壓譜、相位譜;配備了可視化全自動進樣系統(tǒng),可以便捷地對樣品的位置進行可視化的調(diào)控,具有高度的自動化、集成化特征,充分體現(xiàn)了東譜科技“一鍵開機、一次裝載、全局測量、實時交互”的產(chǎn)品理念。表面光電壓SPV、表面光電譜SPS、相位譜、表面光電流SPC、SPV、SPC、SPS、表面檢查技術、能帶圖、界面及缺陷態(tài)、表面電勢、擴散長度、少子壽命、表面空間電荷、少數(shù)載流子壽命
詳細介紹
產(chǎn)品關鍵詞:表面光電壓SPV、表面光電譜SPS、相位譜、表面光電流SPC、SPV、SPC、SPS、表面檢查技術、能帶圖、界面及缺陷態(tài)、表面電勢、擴散長度、少子壽命、表面空間電荷、少數(shù)載流子壽命
產(chǎn)品簡介
SteaPVC是 Orienlal Spectra(下稱0S)針對光催化、半導體、MOF(Metal-Organic Framework)等光電領域推出的穩(wěn)態(tài)表面光電流/光電壓測量儀。SteaPVC 是TranPVC(瞬態(tài)光電流/光電壓/光電荷測量儀)的姐妹產(chǎn)品,共同為行業(yè)提供了完善的穩(wěn)、瞬態(tài)光電流、光電壓、光電荷測量的產(chǎn)品方案。SteaPVC基于相敏檢測技術開發(fā)而成,可以在不同的激勵光波長下對超微弱穩(wěn)態(tài)光電流、光電壓信號進行檢測;集成了多種測量模式,可以便捷得到波長依賴的光電流譜、光電壓譜、相位譜;配備了可視化全自動進樣系統(tǒng),可以便捷地對樣品的位置進行可視化的調(diào)控,具有高度的自動化、集成化特征,充分體現(xiàn)了東譜科技“一鍵開機、一次裝載、全局測量、實時交互”的產(chǎn)品理念。
表面光電壓(Surface photovoltage, SPV)是半導體廣泛存在的物理現(xiàn)象。表面光電壓譜(surface photovoltage spectroscopy,SPS)是以無接觸、無損的方式對半導體器件樣品進行檢測,從而研究半導體的帶隙、表面電勢、氧化層、少子壽命、擴散長度、界面及缺陷態(tài)、量子阱結構的能帶Offset等。SteaPVC還具有光電流譜的選配模塊,針對具有光電流效應的樣品構建專門檢測電流回路,形成光電流,從而得到光電流譜。SteaPVC采用Melal-insulalor-semiconductor(MIS)的方法對樣品進行測試,是一種無損的測試方法,樣品制備簡單。 近些年,SPS的方法在硅基半導體、III-V族化合物半導體、鈣鈦礦、有機半導體、光催化、水解氫等行業(yè)得到了長足發(fā)展。
SteaPVC是行業(yè)內(nèi)新款商業(yè)化、自動化的表面光電壓/光電流測量儀,為用戶帶來了革命性的體驗。它實現(xiàn)了高度自動化,幾乎所有操作都能自動完成,省去了人工繁瑣的步驟,讓使用者無需專業(yè)背景也能輕松上手。其次,它的數(shù)據(jù)準度極高,能夠為用戶提供準確、可靠的分析結果,極大提高了工作效率。而且,這款儀器還非常便捷易用,用戶經(jīng)過半天的培訓,都能迅速設置并開始工作。它的界面設計直觀明了,即使是初學者也能快速掌握操作方法。這款儀器設備不僅解放了用戶的專業(yè)束縛,還將以其高效、準確的特點贏得廣大用戶的喜愛,助力用戶輕松應對各種復雜的SPS測試任務。
產(chǎn)品特點
□ 基于相敏檢測技術開發(fā)而成,可以在不同的激勵光波長下對超微弱穩(wěn)態(tài)光電流、光電壓信號進行檢測;
□ 集成了多種測量模式,可以便捷得到波長依賴的光電流譜、光電壓譜、相位譜;
□ 基于MIS的方法對樣品進行檢測,不需要對樣品形成異質(zhì)結、不要求樣品與電極形成歐姆接觸等;
□ 配備了可視化全自動進樣系統(tǒng),可以便捷地對樣品的位置進行可視化的調(diào)控,具有高度的自動化、集成化特征。
功能參數(shù)
□ 表面光電壓SPV;
□ 表面光電譜SPS;
□ 相位譜等。
應用場景
□ 適用半導體帶隙、表面電勢、氧化層、少子壽命、擴散長度、界面及缺陷態(tài)、量子井結構的能帶offset等研究;
□ 適用光催化、光伏、半導體等研究領域。
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