MicroSense公司（以前的DMS和ADE公司）具有近35年的生產(chǎn)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)和其他磁測(cè)量設(shè)備的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，其生產(chǎn)的振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)（VSM）已經(jīng)成為眾多大學(xué)和科研機(jī)構(gòu)實(shí)驗(yàn)室、包括公司和企業(yè)必不可少的設(shè)備之一。幾乎所有類(lèi)型的磁性材料都可以使用Easy（EZ）系列振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)VSM產(chǎn)品進(jìn)行表征，固體、液體、粉末、薄膜、單晶和巖石等樣品都可以作為EZ-VSM測(cè)量的對(duì)象。

EZ-VSM可以進(jìn)行幾乎所有的磁學(xué)實(shí)驗(yàn)測(cè)量：比如磁滯回線(xiàn)和小磁滯回線(xiàn)、IRM和DCD剩磁曲線(xiàn)、SFD、Delta M、Delta H、Henkel Plots、變角和AC剩磁曲線(xiàn)、溫度掃描和時(shí)間衰減等測(cè)試。同樣，用戶(hù)也可以通過(guò)系統(tǒng)功能來(lái)進(jìn)行自定義測(cè)量，只需靈活的運(yùn)用Easy VSM軟件進(jìn)行編程即可完成。該軟件具有強(qiáng)大的處理數(shù)據(jù)能力，可以直接讀取HCB、HCJ、磁能積和各向異性場(chǎng)等參數(shù)，對(duì)研究永磁的客戶(hù)非常方便。所有的EZ系列產(chǎn)品都可同時(shí)配備磁扭矩測(cè)試和磁電阻測(cè)試系統(tǒng)，另外新增了磁光克爾和磁電耦合測(cè)試、鐵磁共振選件，拓展了設(shè)備的測(cè)試功能。

應(yīng)用領(lǐng)域：

? 聲頻
? 視頻數(shù)據(jù)磁帶
? 軟磁媒體
? 濺射與電鍍型薄膜磁盤(pán)
? 磁光盤(pán)
? 多層膜結(jié)構(gòu)
? 軟、硬磁鐵氧體
? 磁粉
? 永磁材料
? 高溫超導(dǎo)體

? 強(qiáng)磁性鐵鎳合金以及其他軟磁材料

設(shè)備選件：

? 樣品自動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)（EZ1-VAR, 范圍:±400° 精度:±0.2°）
? 一體化高低溫選件（EZ1-LNA Temperature Control, 77K, 100K-1000K）
? 液氦低溫選件（EZ1-LHE, 4.2K, 8K-450K）
? 超高溫選件（EZ1-HT, 300K-1300K）
? 磁性矢量測(cè)量選件（EZ1-VSC-DSP, 噪聲: 400 nemu RMS(10s/點(diǎn))；1000 nemu RMS (0.1s/點(diǎn))）
? 快速掃場(chǎng)選件（EZ1-SWP，每秒1000個(gè)點(diǎn)，速率1T/s）
? 磁光克爾選件（EZ1-MOKE）
? 轉(zhuǎn)動(dòng)磁扭矩測(cè)量系統(tǒng)（EZ1-TRO 1-400 dyne-cm）
? 磁阻測(cè)量選件（EZ1-MR、EZ1-MR-AC）
? 磁電耦合選件（EZ1-ME）
? 自動(dòng)進(jìn)樣選件（EZ1-ASL）

應(yīng)用案例：

金屬有機(jī)磁體磁學(xué)性能表征

近期，來(lái)自國(guó)家科學(xué)研究中心波爾多大學(xué)Panagiota Perlepe等研究者，用一種常規(guī)、簡(jiǎn)單、高效的輕量化分子基磁體合成含有鉻金屬離子和吡嗪構(gòu)建塊的預(yù)組裝配位網(wǎng)絡(luò)，由此產(chǎn)生的金屬有機(jī)鐵氧體具有高達(dá)242°C的臨界溫度和7500Oe的室溫矯頑力。該工作被發(fā)表在Science期刊上，在該項(xiàng)工作中，研究者利用Quantum Design 全新一代磁學(xué)測(cè)量系統(tǒng)-MPMS3以及MicroSense EZ系列振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)分別對(duì)材料低溫和高溫溫區(qū)的磁學(xué)性能進(jìn)行了表征。其中通過(guò)Microsense EZ系列VSM磁強(qiáng)計(jì)對(duì)材料300K-600K的測(cè)量數(shù)據(jù)的Tc點(diǎn)（510K）進(jìn)行了標(biāo)定。

VSM測(cè)量數(shù)據(jù)： 
矯頑力0.07 Oe的檢測(cè)，磁場(chǎng)間隔為2 mOe。EZ-VSM在不需要選件的情況下低場(chǎng)分辨率超過(guò)了某些使用了赫姆霍茲線(xiàn)圈的VSM。
3.6mm樣品空間10s/點(diǎn)進(jìn)行平均測(cè)量的噪聲，噪音指標(biāo)僅為14.2 nemu RMS和 70 nemu PP。
FORC測(cè)試結(jié)果。91條曲線(xiàn)，33000數(shù)據(jù)點(diǎn)，36分鐘在掃描模式下測(cè)試數(shù)據(jù)
磁扭矩測(cè)量
 

鐵磁共振FMR測(cè)試數(shù)據(jù)

技術(shù)參數(shù)

設(shè)備型號(hào)：