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德國(guó)布魯克 Dimension HPI原子力顯微鏡
- 品牌:德國(guó)布魯克
- 型號(hào): Dimension HPI
- 產(chǎn)地:歐洲 德國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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布魯克納米表面儀器部
更新時(shí)間:2023-08-07 11:56:12
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銷(xiāo)售范圍售全國(guó)
入駐年限第5年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類(lèi)產(chǎn)品掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡)(23件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 高效的工業(yè)研發(fā)型AFM
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
Dimension HPI
Dimension HPI 系統(tǒng)專(zhuān)為大批量、大生產(chǎn)環(huán)境而設(shè)計(jì),支持多種 AFM 模式進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量,具有簡(jiǎn)單易用性,并能實(shí)現(xiàn)在質(zhì)量控制、質(zhì)量保證和失效分析中的最 低檢測(cè)成本。Dimension HPI 使用接觸、輕敲和 峰值力輕敲模式技術(shù),使用戶能夠精確控制探針和樣品的相互作用力,從而延長(zhǎng)探針壽命,并且在數(shù)千次測(cè)量中保持測(cè)量的準(zhǔn)確性。
創(chuàng)新峰值力攻絲最 小化探頭上的橫向力,以進(jìn)行樣品保護(hù)、延長(zhǎng)探針壽命和最一致的測(cè)量。獨(dú)特快速掃描 AFM 探頭低成本測(cè)量,并保證最可靠的數(shù)據(jù)。易于使用自動(dòng)化軟件使每個(gè)用戶成為 AFM 專(zhuān)家,并確保操作員與操作員之間的一致性。廣泛的測(cè)量范圍
從傳統(tǒng)的AFM掃描模式到獨(dú)有的 PeakForce 峰值力模式,Dimension HPI 提供靈活的選項(xiàng),可滿足各種樣品在特定制造工程中對(duì)測(cè)量的需求,而不受通常 AFM 用于研究時(shí)的設(shè)置復(fù)雜性的限制。
快速納米電氣計(jì)量
快速掃描技術(shù)和導(dǎo)電力顯微鏡 (CAFM)結(jié)合可以在高掃描速率下測(cè)量納米級(jí)的電流,顯著提高失效分析的效率。FastScan HPI 利用峰值力輕敲模式下的磁力顯微鏡技術(shù),可以在不影響磁力顯微鏡精度的情況下將掃描速度增大10倍。PeakForce KPFM?提供最 高的空間分辨率和最精確的表面電位測(cè)量。PeakForceTUNA 提供靈敏的導(dǎo)電性測(cè)量。
精確的納米力學(xué)性能表征
布魯克獨(dú)特的 PeakForce QNM 和 FastForce Volume? 模式可以精確測(cè)量材料的力學(xué)性能 - 模量、剛度、粘附性、耗散和形變量,同時(shí)對(duì)樣品形貌和電學(xué)特性進(jìn)行成像。PeakForce QNM 支持對(duì)聚合物、薄膜和納米缺陷進(jìn)行非破壞性測(cè)量,這些缺陷無(wú)法通過(guò)TEM或SEM技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。
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