產(chǎn)品介紹：

WMG-3型壓電陶瓷干涉測量實(shí)驗(yàn)儀通過系統(tǒng)軟件控制，測量壓電陶瓷的壓電常數(shù)及其振動(dòng)的頻率響應(yīng)特性。

主要技術(shù)特點(diǎn)

1. 光源：氦氖激光器，波長632.8nm，功率≥1.5mW，單模TEMoo，全保護(hù)安全高壓插頭，腔長250mm。

2. 壓電陶瓷：管狀，在內(nèi)外壁上分別鍍有電極，以施加電壓。

3. 結(jié)構(gòu)：采用全新的平臺(tái)式邁克爾干涉儀設(shè)計(jì)，便于在光路中加入被測物質(zhì)；開放式的空間，使等厚干涉、等傾干涉及各種條紋的變動(dòng)易于調(diào)整，方便精密測量。

4. 基座：采用鑄鐵基座作為實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，保證了實(shí)驗(yàn)過程的穩(wěn)定性。

5. 軟件：具有數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、數(shù)據(jù)保存等功能。

主要實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

1. 觀察點(diǎn)光源非定域干涉（標(biāo)配He-Ne 激光器）

2. 觀察等傾干涉條紋（需另配低壓鈉燈）

3. 觀察等厚干涉條紋（需另配低壓鈉燈）

4. 觀察白光干涉現(xiàn)象（需另配白光源）

5. 測定光源或?yàn)V光片的波長（標(biāo)配 He-Ne 激光器 或另配低壓鈉燈）

6. 測定鈉黃雙線波長差（需另配低壓鈉燈）

7. 測量透明介質(zhì)薄片折射率（透明介質(zhì)薄片）

8. 壓電陶瓷的壓電常數(shù)測量及觀察研究壓電陶瓷的振動(dòng)的頻率響應(yīng)特性

9. 選配實(shí)驗(yàn) 測量透明氣體折射率（需另配 玻璃氣室）

10. 選配實(shí)驗(yàn) 觀察法布里- 珀羅的干涉現(xiàn)象（需另配法布里—珀羅標(biāo)準(zhǔn)具）

主要配置

WMG-3 智能壓電陶瓷干涉測量實(shí)驗(yàn)儀（主機(jī)、毛玻璃屏、擴(kuò)束鏡、一維底座）

壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)電源、壓電陶瓷位移單元、壓電陶瓷接收單元、壓電陶瓷數(shù)據(jù)采集單元

GY-11 氦氖激光器（含電源）

可選配：GY-5 低壓鈉燈、GY-14 白光源、法

布里標(biāo)準(zhǔn)具、氣室組件等。