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布魯克 Dimension Icon 原子力顯微鏡

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詳細(xì)介紹

原子力顯微鏡

Dimension Icon 原子力顯微鏡

性能優(yōu)異的大樣品臺(tái)AFM


Dimension Icon 原子力顯微鏡

Bruker Dimension?   Icon?  原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的應(yīng)用體驗(yàn),具有高水平的性能、功能和配件選擇, 其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),廣大客戶反饋,結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求, Dimension Icon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平?,F(xiàn)在,用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。


優(yōu)異性能

探針掃描式掃描器
獨(dú)特的傳感器設(shè)計(jì),在閉環(huán)條件下,也能實(shí)現(xiàn)開(kāi)環(huán)噪聲級(jí)別的大樣品高分辨率掃描成像,熱漂移速率低于200 pm
操作簡(jiǎn)單易用
超高效率
提供簡(jiǎn)單、直觀的操作流程,以快速實(shí)現(xiàn)發(fā)表級(jí)數(shù)據(jù)的獲取。
優(yōu)秀的多功能性
多功能的配件選擇
適合廣泛的實(shí)驗(yàn)、模式、技術(shù)和半自動(dòng)測(cè)量。


特征

高性能和高分辨率

Dimension?  Icon?優(yōu)秀的分辨率,與 Bruker 特有的電子掃描算法相結(jié)合,顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension?  Icon?是針尖掃描技術(shù)的zui新革新,一直處于領(lǐng)先地位。該系統(tǒng)配置溫度補(bǔ)償位置傳感器,實(shí)現(xiàn)了 Z 軸亞埃級(jí)和 XY 軸埃級(jí)的低噪音水平,將這個(gè)性能應(yīng)用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺(tái)系統(tǒng)上,效果甚至超過(guò)高分辨率原子力顯微鏡的開(kāi)環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)使儀器在較高掃描速度工作時(shí),圖像質(zhì)量也不會(huì)被損壞,實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。配置Bruker 的PeakForce?技術(shù),Dimension Icon可實(shí)現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。

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卓越表現(xiàn)

Dimension  Icon原子力顯微鏡已成為研究領(lǐng)域受歡迎的原子力顯微鏡型號(hào)之一, 使用Dimension  Icon發(fā)表文章的數(shù)目遠(yuǎn)比其他大樣品臺(tái)AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平臺(tái)上引入zui新技術(shù),展現(xiàn)出更高的性能和更快的測(cè)量速度。其軟件直觀的工作流程,使其操作過(guò)程比以往先進(jìn)的AFM 技術(shù)更加簡(jiǎn)便。Dimension  Icon用戶無(wú)需像以前一樣,通常需要幾小時(shí)的專業(yè)參數(shù)調(diào)整,即可立即獲得高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果。Dimension Icon 的每個(gè)方面,從完全開(kāi)放式針尖樣品空間,到軟件參數(shù)預(yù)設(shè)置,都經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無(wú)障礙操作和驚人的AFM 易用性。

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靈活的AFM平臺(tái)

Dimension Icon 展現(xiàn)出了的卓越的性能,穩(wěn)定性和靈活性,幾乎可以實(shí)現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測(cè)量。利用開(kāi)放式平臺(tái),大型或多元樣品支架和許多簡(jiǎn)單易用的性能,把AFM 的強(qiáng)大功能完全展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前,為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。


Dimension Icon 提供對(duì)性能沒(méi)有任何影響的靈活性平臺(tái), 一個(gè)平臺(tái),無(wú)限可能:

  • 開(kāi)放的平臺(tái),能整合其他技術(shù)

  • 開(kāi)放的軟件和硬件,能輕松定制您的研究應(yīng)用 - "如果它不存在, 就發(fā)明它"

  • 電池、有機(jī)太陽(yáng)能等研究的完整解決方案

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AFM 模式

用AFM拓展您的應(yīng)用

憑借一整套出色的AFM成像模式,布魯克能為您每項(xiàng)研究提供適用的 AFM 技術(shù)。

基于核心成像模式(接觸模式和輕敲模式),布魯克提供的全套 AFM測(cè)試模式,允許用戶探測(cè)樣品的電學(xué)、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式,已被應(yīng)用到多種測(cè)量模式中,能同時(shí)提供形貌、電學(xué)和力學(xué)性能數(shù)據(jù)。




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