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鍍層厚度光譜儀--X熒光方法檢測
- 品牌:上海關(guān)河
- 型號: IEDX-150AT
- 產(chǎn)地:上海 松江區(qū)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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關(guān)河儀器設(shè)備(上海)有限公司
更新時(shí)間:2025-03-26 22:31:44
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銷售范圍售全國
入駐年限第9年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品X熒光光譜儀(9件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 采用非真空樣品腔;
專業(yè)用于PCB鍍層厚度,金屬電鍍鍍層分析;
可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比列。 詳細(xì)介紹
采用非真空樣品腔;
專業(yè)用于PCB鍍層厚度,金屬電鍍鍍層分析;
可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比列。
(一)應(yīng)用領(lǐng)域
金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域(可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比例)
(二)圖譜界面
1、軟件支持無標(biāo)樣分析
2、超大分析平臺和樣品腔
3、集成了鍍層界面和合金成分分析界面
4、采用先進(jìn)的多種光譜擬合分析處理技術(shù)
5、分析精度可達(dá)到0.01?m
(三)產(chǎn)品優(yōu)勢
1、可進(jìn)行鍍層檢測,檢測層數(shù)范圍1-6層;
2、平臺移動范圍可達(dá)160*160*100mm(X*Y*Z) ;
3、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能;
4、可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料;
5、運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;
6、可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性、半定量分析;
7、操作簡單、jing準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速檢測(5-40秒);
8、極高端配置:SDD探測器、英國牛津X射線管、美國SPELLMAN高壓電源
9、可針對客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件;
10、軟件終身免費(fèi)升級;
11、無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可使用;
12、使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供全方位保姆式服務(wù);
(四)技術(shù)指標(biāo)測量原理:能量色散X射線分析
X射線光管:50KV,1mA
檢測系統(tǒng):SDD探測器
檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)
應(yīng)用程序語言:中/英/韓
平臺移動范圍:160*160*100mm(X*Y*Z)
儀器尺寸:526*637*484mm(X*Y*Z)
樣品類型:液體/固體/粉末
濾光片:Al濾光片自動轉(zhuǎn)換
能量分辨率:129±5eV
準(zhǔn)直器:0.05/0.1/0.2/0.4/0.5/1mm(六個(gè)自動轉(zhuǎn)換)
分析方法:FP/校準(zhǔn)曲
IEDX-150AT儀器為自動平臺
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