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日立 Hitachi SU8700 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
- 品牌：日立
- 型號： SU8700
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：￥5000000
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上海愛儀通網絡科技有限公司
更新時間：2025-06-16 13:21:38 -
銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產品SEM 掃描電子顯微鏡(37件)
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詳細介紹
超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700
隨著快速數據采集和數據處理技術的發(fā)展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且注重其采集過程的時代。SU8700作為一款面向新時代的SEM，在日立電鏡貫有的高圖像質量和高穩(wěn)定性的基礎上，增加了包括自動獲取數據等高通量的功能。
超高分辨觀察和強分析能力
日立的高亮度肖特基場發(fā)射電子槍可同時支持超高分辨觀察和快速微束分析。在不使用樣品臺減速的情況下，僅用0.1 kV的低加速電壓仍可進行高分辨觀察，適應更多應用場景。同時，可搭配多種新型探測器和其他豐富的選配項，滿足更多的觀測需求。
先進的自動化功能*
EM Flow Creator 允許客戶創(chuàng)建連續(xù)圖像采集的自動化工作流程。EM Flow Creator將不同的SEM功能定義為圖形化的模塊，如設置放大倍率、移動樣品位置、調節(jié)焦距和明暗對比度等。用戶可以通過簡單的鼠標拖拽，將這些模塊按邏輯順序組成一個工作程序。經過調試和確認后，該程序便可以在每次調用時自動獲得高質量、重現性好的圖像數據。
強大的顯示及交互特性
原生支持雙顯示器，提供靈活、高效的操作空間。
6通道同時顯示與保存，實現快速的多信號觀測與采集，帶來更多信息。
單次掃描最高支持 40,960×30,720 的超高像素*規(guī)格
電子光學系統(tǒng) 二次電子分辨率 0.6 nm@15 kV 0.8 nm@1 kV 0.9 nm@0.3 kV 放大倍率 20 ~ 2,000,000 x 電子槍 肖特基場發(fā)射電子源 加速電壓 0.1 ~ 30 kV 著陸電壓*1,*3 0.01 ~ 7 kV 最大束流 200 nA 探測器 標配探測器 上探測器（UD） 下探測器（LD） 選配探測器*3 鏡筒內背散射電子探測器（MD） 半導體式背散射電子探測器（PD-BSE） 高靈敏低真空探測器（UVD） 掃描透射探測器（STEM） 選配附件*2 X射線能譜儀（EDS） 電子背散射衍射探測器(EBSD) 樣品臺 馬達驅動軸 5軸馬達驅動 移動范圍 X 0 ~ 110 mm Y 0 ~ 110 mm Z 1.5 ~ 40 mm T -5 ~ 70° R 360° 樣品室 樣品尺寸 最大直徑：150 mm*4 低真空模式 真空范圍 5 ~ 300 Pa *1減速模式下
*2可配置的探測器
*3選配項
*4
滬公網安備 31011502008050號