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屹持光電提供各種衰減全反射棱鏡ATR Prism元件,用于全內(nèi)反射測(cè)量。通常,當(dāng)樣品難以用透射分析時(shí),使用反射光譜法。頂置ATR系統(tǒng)適用于凝膠、薄膜和細(xì)粉分析。使用不同的頂板ATR系統(tǒng)分析難以處理的易揮發(fā)或敏感樣品。它們還用于提供溫度敏感分析和聚合物膜遷移,以及表面取向和反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究。單反射ATR系統(tǒng)使用高吸收和小樣本進(jìn)行靜態(tài)或流動(dòng)分析。
當(dāng)紅外輻射進(jìn)入具有較高折射率和良好透射率的材料時(shí),發(fā)生內(nèi)部反射。如果入射角超過(guò)臨界角(等式1),則與晶體緊密接觸的樣品吸收能量。
全內(nèi)反射條件:
其中n 1,n 2 - 兩種介質(zhì)的折射率。
如果系統(tǒng)使用多個(gè)反射附件,則儀器的光束反復(fù)反射,并且每次反射都會(huì)吸收一些能量。當(dāng)光束離開(kāi)晶體并到達(dá)檢測(cè)器時(shí),它包含來(lái)自樣品的光譜數(shù)據(jù)。結(jié)果可以記錄吸收光譜。
以下因素會(huì)影響ATR頻譜:
入射光波長(zhǎng);
樣品和ATR晶體的折射率;
瞄準(zhǔn)角;
晶體與樣品接觸的效率。
ATR晶體由足夠硬的材料制成,具有高折射率,晶體配置為允許內(nèi)部反射。使樣品與ATR晶體保持接觸,并記錄光譜作為晶體透射曲線和樣品吸收曲線的疊加。
圖1 衰減全反射棱鏡ATR Prism光傳播。
屹持光電提供幾種幾何形狀的定制ATR組件:梯形、平行四邊形、桿和半球。使用各種材料:ZnSe、Ge、Si和藍(lán)寶石。所有材料和產(chǎn)品均符合嚴(yán)格的控制標(biāo)準(zhǔn),包括光譜特性和一般性能要求以及規(guī)格控制。
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