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飛行時間二次離子質(zhì)譜儀PHI nanoTOF3

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產(chǎn)品特點

PHI第7代TOF-SIMS
?全新外觀,時尚設(shè)計,設(shè)備占地面積減少,更低功耗
?全新設(shè)計的全自動樣品臺,可實現(xiàn)可靠、高通量-的樣品處理和真空停放
?配置新型鉍源LMIG團簇離子槍,具有更高的空間分辨率
獲得專利的平行成像MS/MS質(zhì)譜儀
?無論樣品表面平整還是粗糙,PHI的第7代三重聚焦質(zhì)量分析器均能勝任
?并行成像MS/MS將TOF-SIMS譜峰識別從“我認為”變?yōu)椤拔抑?!?br /> ?可對豐度低于20 ppm的質(zhì)譜峰進行無損和高靈敏度串聯(lián)質(zhì)譜分析
獲得專利的一鍵雙束中和技術(shù)
?全新的脈沖低能電子和低能Ar+離子雙束中和技術(shù),可在正、負離子模式下實現(xiàn)可靠且真正的一鍵中和
可靠的自動化和遠程操作
?高度可配置的序列分析系統(tǒng),可用于自動無人值守分析,以獲得Z大的分析效率
?可完全遠程操作和高級遠程診斷

詳細介紹

簡介

nanoTOF 3是PHI最.新一代的TOF-SIMS,擁有全新外觀、緊湊設(shè)計,以及更強性能。

QQ截圖20220627092633.png

 

關(guān)鍵技術(shù)

  • 實現(xiàn)高精度測量的一次離子槍。

  • 三重離子束聚焦質(zhì)量分析器,復雜形貌樣品的高精度分析。

  • TOF-SIMS自動多樣品測試。

  • 獨特的離子束技術(shù)。

  • 通過平行成像MS/MS進行分子結(jié)構(gòu)分析。

  • 可靠的遠程訪問功能,即使在遠離設(shè)備的情況下也能進行“測量”和“診斷”。

  • 多樣化配置。

 

實現(xiàn)高精度測量的一次離子槍

先進的離子束技術(shù),實現(xiàn)高空間分辨率

PHI nanoTOF3 能夠提供高質(zhì)量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分 析:在高質(zhì)量分辨模式下,其空間分辨率優(yōu)于500 nm;在高空間分 辨模式下,其空間分辨模式優(yōu)于50 nm。通過結(jié)合高強度離子源、 高精度脈沖組件和高分辨率質(zhì)量分析器,可以實現(xiàn)低噪聲、高靈敏度和高質(zhì)量分辨率的測量。


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三重離子束聚焦質(zhì)量分析器(TRIFT),復雜形貌樣品的高精度分析

三重離子束聚焦質(zhì)量分析器,適用于寬帶通能量、寬立體接受角度、各種形貌樣品分析

主離子束激發(fā)的二次離子會以不同角度和能量從樣品表面飛出,特別是對于有高度差異和形貌不規(guī)則的樣品,即使相同的二次離子在分析器中會存在飛行時間上的差異,因此導致質(zhì)量分辨率變差,并對譜峰形狀和背景產(chǎn)生影響。

TRIFT質(zhì)量分析器可以同時對二次離子發(fā)射角度和能量進行校正,保證相同二次離子的飛行時間一致,所以TRIFT兼顧了高質(zhì)量分辨率和高檢測靈敏度優(yōu)勢,對于不平整樣品的成像可以減少陰影效應(yīng)

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TOF-SIMS自動多樣品測試

Queue Editor實現(xiàn)多樣品自動測試

您可以輕松創(chuàng)建和編輯包括質(zhì)譜分析、成像分析和深度剖析在內(nèi)的所有測試方案。測試方案中除了測試條件外,還包括測試位置的信息。在您創(chuàng)建測試序列后,程序可根據(jù)測試方案自動進行多樣品多點分析。

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全自動樣品傳送系統(tǒng)

PHI nanoTOF3 配置了在XPS的Q系列上表現(xiàn)優(yōu)異的全自動樣品傳送系統(tǒng):最大樣品尺寸可達100 mmx100 mm,而且分析室標配內(nèi)置樣品托停放裝置;結(jié)合分析序列編輯器(Queue Editor), 可以實現(xiàn)對大量樣品的全自動連續(xù)測試。

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獨特的離子束技術(shù)

采用新開發(fā)的脈沖氬離子槍,獲得專利的自動荷電雙束中和技術(shù)

TOF-SIMS測試的大部分樣品為絕緣樣品,而絕緣樣品表面通常有荷電效應(yīng)。PHI nanoTOF3 采用自動荷電雙束中和技術(shù),通過同時發(fā)射低能量電子束和低能量氬離子束,可實現(xiàn)對任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動荷電中和,無需額外的人為操作。

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標配離子槍新增FIB(Focused Ion Beam)功能

在PHI nanoTOF3 中,液態(tài)金屬離子槍增加了FIB處理新功能,
可以使用單個離子槍進行橫截面處理和橫截面TOF-SIMS分析。
通過操作計算機,可以快速輕松地完成從FIB處理到TOF-SIMS
分析的全過程。此外,也具備冷卻條件下FIB加工能力。

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通過平行成像MS/MS進行分子結(jié)構(gòu)分析

MS/MS平行成像同時采集MS1/MS2數(shù)據(jù)(專利)

在TOF-SIMS測試中,MS1質(zhì)量分析分析器接收從樣品表面產(chǎn)生的所有二次離子碎片,對于質(zhì)量數(shù)接近的大分子離子,MS1譜圖難以區(qū)分。通過安裝串聯(lián)質(zhì)譜MS2,對于特定離子進行碰撞誘導解離生產(chǎn)特征離子碎片,MS2譜圖可以實現(xiàn)對分子結(jié)構(gòu)的進一步鑒定。

PHI nanoTOF3 具備串聯(lián)質(zhì)譜MS/MS平行成像功能,可以同時 獲取分析區(qū)域的MS1和MS2數(shù)據(jù),為分子結(jié)構(gòu)的精準分析提供了 強有力的工具。

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可靠的遠程訪問功能,即使在遠離設(shè)備的情況下也能進行“測量”和“診斷”

遠程訪問實現(xiàn)對儀器的遠程控制

PHI nanoTOF3 允許通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)訪問儀器。只需將樣品 臺放入進樣室,就可以對進樣、換樣、測試和分析等所有操作進 行遠程控制。我們的專業(yè)人員可以對儀器進行遠程診斷*。

*如需遠程診斷,請聯(lián)系我們的客戶服務(wù)人員。

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多樣化的配置

  • 串聯(lián)質(zhì)譜

  • 氬團簇離子源

  • 氬/氧氣離子源

  • 銫離子源

  • 碳60離子源

  • 樣品臺高/低溫模組

  • 真空傳輸管

  • 惰性氣氛手套箱

  • 觀察曲面樣品專用樣品托

  • 通氧模組

  • 聚焦離子束

  • 聚焦離子束軟件

  • 離線數(shù)據(jù)處理軟件

  • 靜態(tài)質(zhì)譜圖庫







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