其它測(cè)厚儀

測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。常見(jiàn)的測(cè)厚儀有激光測(cè)厚儀、紙張測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀等，其他測(cè)厚儀有紅外線測(cè)厚儀。紅外線測(cè)厚儀是利用成對(duì)紅外線探頭組成紅外線發(fā)射和接收系統(tǒng)，當(dāng)被測(cè)物通過(guò)這組探頭時(shí)，由于被測(cè)物吸收紅外線而使發(fā)射端發(fā)出來(lái)的紅外線在經(jīng)過(guò)被測(cè)物發(fā)生衰減這一特性以確定被測(cè)物的厚度，然后利用計(jì)算機(jī)作為主處理器，進(jìn)行信號(hào)在線采集處理、數(shù)字圖像顯示、報(bào)警等功能。