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晶體管參數測試儀
- 品牌:中昊芯測
- 型號: SC2020
- 產地:陜西 西安
- 供應商報價:面議
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西安中昊芯測科技有限公司
更新時間:2025-03-06 17:31:03
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銷售范圍售全國
入駐年限第1年
營業(yè)執(zhí)照已審核
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詳細介紹
SC2020晶體管參數測試系統(tǒng)
系統(tǒng)概述
SC2020晶體管參數測試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導體分立器件電學參數測試的專用設備,主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗,研發(fā)部門進行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。
系統(tǒng)為桌面放置的臺式機結構,由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗 ”“失效分析 ”“選型配對 ”“量產測試 ”等不同應用場景。
系統(tǒng)軟件基于Labview平臺開發(fā),填充式菜單界面,帶自動糾錯功能,可進行器件參數的分檔、分類編程,并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結果,測試結果和統(tǒng)計結果均可以EXCEL格式存貯于計算機中,根據需要可以打印輸出。
系統(tǒng)特點
◆ 系統(tǒng)采用大規(guī)模32位ARM&MCU設計
◆ 可測試7大類26分類的電子元器件
◆ 程控高壓源1400V,提供2000V選配
◆ 程控高流源40A,提供100A,200A,500A 選配
◆ 控制極電壓可達40V,電流可達100mA
◆ 系統(tǒng)數據采集采用16位ADC,1M/S采樣速率
◆ 測試漏流最小分辨率達1.5pA
◆ 四線開爾文連接保證加載測量的準確
◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)
◆ 連接分選機最高測試量為每小時1萬個
◆ 可為用戶提供豐富的測試適配器
◆ 可選配測試結電容,諸如Ciss,Crss,Coss;
◆ 系統(tǒng)符合《GJB128半導體分立器件試驗方法》等相應的國軍標及國際標準。
系統(tǒng)指標
? 技術指標
系統(tǒng)功能模塊
最大量程
最高分辨率
最高精度
低壓源(FV)
0~±40V
1uV
±0.1%
低流源(FI)
0~±100mA
1pA
±0.1%
高壓源(HVS)
0~±1400V/2000V
1mV
±0.5%
高流源(HIS)
0~±40A/100A/200A/500A
1uA
±1%
電壓測量(MV)
0~±1400V/2000V
1uV
±0.1%
電流測量(MI)
0~±40A/100A/200A/500A
1pA
±0.1%
? 測試能力
器件種類
測試參數
二極管類
(含TVS SBD ZENER整流橋)
BVR、IR、VF、VZ、RZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr(選配)
三極管
BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESAT、VBE、選配(Ciss、Coss、Crss)
可控硅/雙向可控硅
IGT、VGT、VTM、VDRM、VRRM、IH、IL、IDRM、IRRM
場效應管
VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配(Ciss、Coss、Crss)
IGBT
BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEON、VGEON、VF、ICON、選配(Ciss、Coss、Crss)
壓敏電阻
VRRM、VDRM、IRRM、IDRM、Cka
光耦
VF、IR、BVCEO、VF、IR、BVCEO、BVECO、ICEO、CTR、VCESAT、
選配(Tr、Tf)
三/四端穩(wěn)壓器
Vout、Iin、IB、VD、Max_lo、Ro
繼電器
Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、選配(Ton、Toff)
功率驅動器、
高邊功率開關
Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt
電壓保護器
Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr
基準IC模塊
Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka
傳感監(jiān)測類
電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);
霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);
電壓監(jiān)控器(選配);電壓復位IC(選配);
應用領域及場景
>測試分析(功率器件研發(fā)設計階段的初始測試)
>失效分析(對失效器件進行測試,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案)
>選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)
>來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
>量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規(guī)模化、自動化測試)
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