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晶體管參數測試儀

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晶體管參數測試儀 核心參數
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柵極電壓 40V

產品特點

SC2020晶體管參數測試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導體分立器件電學參數測試的專用設備,主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗,研發(fā)部門進

詳細介紹

 SC2020晶體管參數測試系統(tǒng)

系統(tǒng)概述

SC2020晶體管參數測試系統(tǒng)是我司自主研發(fā)的半導體分立器件電學參數測試的專用設備,主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗,研發(fā)部門進行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。

系統(tǒng)為桌面放置的臺式機結構,由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠極好的應對“來料檢驗 ”“失效分析 ”“選型配對 ”“量產測試 ”等不同應用場景。

系統(tǒng)軟件基于Labview平臺開發(fā),填充式菜單界面,帶自動糾錯功能,可進行器件參數的分檔、分類編程,并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結果,測試結果和統(tǒng)計結果均可以EXCEL格式存貯于計算機中,根據需要可以打印輸出。

系統(tǒng)特點

◆  系統(tǒng)采用大規(guī)模32位ARM&MCU設計

◆  可測試7大類26分類的電子元器件

◆  程控高壓源1400V,提供2000V選配

◆  程控高流源40A,提供100A,200A,500A 選配

◆  控制極電壓可達40V,電流可達100mA

◆  系統(tǒng)數據采集采用16位ADC,1M/S采樣速率

◆  測試漏流最小分辨率達1.5pA

◆  四線開爾文連接保證加載測量的準確

◆  Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

◆  連接分選機最高測試量為每小時1萬個

◆  可為用戶提供豐富的測試適配器

◆  可選配測試結電容,諸如Ciss,Crss,Coss;

◆  系統(tǒng)符合《GJB128半導體分立器件試驗方法》等相應的國軍標及國際標準。

系統(tǒng)指標

? 技術指標

系統(tǒng)功能模塊

最大量程

最高分辨率

最高精度

低壓源(FV)

0~±40V

1uV

±0.1%

低流源(FI)

0~±100mA

1pA

±0.1%

高壓源(HVS)

0~±1400V/2000V

1mV

±0.5%

高流源(HIS)

0~±40A/100A/200A/500A

1uA

±1%

電壓測量(MV)

0~±1400V/2000V

1uV

±0.1%

電流測量(MI)

0~±40A/100A/200A/500A

1pA

±0.1%

 

? 測試能力

器件種類

測試參數

二極管類

(含TVS SBD ZENER整流橋)

BVR、IR、VF、VZ、RZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr(選配)

三極管

BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESAT、VBE、選配(Ciss、Coss、Crss)

可控硅/雙向可控硅

IGT、VGT、VTM、VDRM、VRRM、IH、IL、IDRM、IRRM

場效應管

VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配(Ciss、Coss、Crss)

IGBT

BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEON、VGEON、VF、ICON、選配(Ciss、Coss、Crss)

壓敏電阻

VRRM、VDRM、IRRM、IDRM、Cka

光耦

VF、IR、BVCEO、VF、IR、BVCEO、BVECO、ICEO、CTR、VCESAT、

選配(Tr、Tf)

三/四端穩(wěn)壓器

Vout、Iin、IB、VD、Max_lo、Ro

繼電器

Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、選配(Ton、Toff)

功率驅動器、

高邊功率開關

Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt

電壓保護器

Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr

基準IC模塊

Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka

傳感監(jiān)測類

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

電壓監(jiān)控器(選配);電壓復位IC(選配);

應用領域及場景

應用領域.png

>測試分析(功率器件研發(fā)設計階段的初始測試)

>失效分析(對失效器件進行測試,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案)

>選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)

>來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

>量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規(guī)模化、自動化測試)

 


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